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                                  該儀器用于測試薄膜材料熱物性參數。薄膜物理指出當物體很薄時,同樣材料薄膜狀態的物性與容積狀態的物性不定相同,因此對薄膜物性的測量必須在薄膜狀態下進行。根據物體表面溫度按余弦(或正弦)規律變化時的瞬態實驗模型。采用溫度波法來測試薄膜材料的熱物性參數,由于薄膜是有限厚的維模型。在這狀態下,當溫度振蕩頻率達到定值后,利用樣品上、下表面溫度的相位差計算導溫系數或導熱系數。儀器于研究薄膜材料

                                  產品型號:HCX09A

                                  更新時間:2024-05-24

                                  HCX09A薄膜熱物性測試儀主要技術參數:

                                  1.導熱系數范圍:0.05~20w/m·k

                                  2.儀器實現數字化測溫,精度優于0.2級。

                                  3.測量結果,準確度 ±3%

                                  4.計量加熱功率可調節±1%。

                                  5.試樣尺寸要求:圓柱體¢15--30*5--30mm .

                                  6.溫度和保護氣氛按用戶要求定制。

                                  7.配接計算機實現全自動測試分析。

                                   

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